LK Metrology全新推出L100NX蓝光激光扫描仪，专为高精度CMM检测设计。450nm蓝光激光可降低26%扫描噪声，提升数据质量和扫描速度，支持高达53万点/秒的大型零件检测。搭载第四代ESP智能传感技术，可自动调节激光功率，轻松测量反光、多材质及复合材料部件，减少人工干预。新增旋转适配器与FOV投影功能，简化复杂几何体扫描设置。L100NX为航空、汽车及工业制造提供高效可靠的精密测量解决方案。
LK Metrology，这家专注于精密计量的英国公司，推出了L100NX——下一代用于三坐标测量机（CMM）的蓝光激光扫描仪。在一份新品发布中，该系统引入了450 nm蓝光激光，旨在降低噪声、提升数据质量，并增强航空、汽车和工业领域用户的扫描性能。
L100NX取代了公司之前的L100红光激光扫描仪，并带来了若干重大升级。LK Metrology表示，新型蓝光激光可将扫描噪声降低26%，为高精度应用提供更干净、更可靠的数据集。该系统结合了110 mm的激光条宽和高达530,000点/秒的扫描速度，使大型零件的检测更为快速。
为了支持多材料组件的检测，扫描仪集成了LK第四代ESP（增强传感器性能）技术。ESP可自动调节激光线上2000个点的激光功率。据公司介绍，这使用户能够无需额外准备就能测量反光表面、复合材料或混合材料组件，从而减少人工干预和操作员的工作量。
在可用性方面，L100NX新增了集成旋转适配器，便于传感器定位，并配备了集成FOV（视场）投影仪，可将覆盖区域直接显示在零件上。LK Metrology指出，这些功能简化了复杂几何体的编程、设置和扫描操作。L100NX随附保护套件、配件及操作维护文档提供。
LK Metrology激光扫描仪产品经理Kristof Peeters表示，L100NX代表了“激光扫描技术的一次重大飞跃”，强调了蓝光光学与智能传感器的结合。他补充道：“我们提供的解决方案能够满足现代制造不断发展的需求。”
蓝光激光计量用于多材料检测
由于其较低的散斑噪声以及在深色、光亮或纹理表面上的优异性能，蓝光激光传感器在工业计量中越来越受到采用。对于CMM用户而言，这可减少准备时间，并提高大批量检测的一致性。
LK Metrology在CMM领域拥有悠久历史。公司由先驱者Norman Key和Jim Lowther于1963年创立，在坐标计量方面取得了多项里程碑，包括首个桥式设计、首个将计算机整合到检测系统的OEM应用，以及碳纤维主轴和微处理器控制驱动的引入。
在作为尼康计量的一部分运营后，LK于2018年重新作为独立的CMM制造商推出。开发和生产均在英国Castle Donington进行，并在欧洲、北美和亚洲设有办事处。
光学计量随新硬件和集成软件生态系统扩展
L100NX的发布正值光学计量快速发展的时期，这一发展受到对速度、便携性和测量精度不断提高的期望推动。近期发布的Creaform HandySCAN 3D EVO系列突显了行业对更轻、更快的手持扫描仪的追求，这些设备能够在各种表面条件下捕获高质量数据。
与此同时，新的软件生态系统如Creaform OS和Creaform Metrology Suite显示，制造商越来越期待无缝的扫描到分析工作流程、自动特征提取以及简化的数据管理。市场上也出现了针对复杂检测任务的专用工具，包括Shining 3D的FreeProbe系列，专注于捕捉难以到达的特征并提高受限环境下的测量能力。
这些发展共同指向了一个更广泛的趋势：传感器和软件正致力于减少设置时间、扩展对复杂表面的覆盖能力，并在便携式和CMM工作流程中实现一致的精度。
